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  • 產品中心

    Product Center
    • KT-DQTL1大氣探針臺 電信號測試

      大氣探針臺 電信號測試是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備,通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試,從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,實現更加精確的數據測試測量。

      更新時間:2023-10-18
      產品型號:KT-DQTL1
      瀏覽量:392
    • KT-DQTL1常溫探針臺 電信號測試

      常溫探針臺 電信號測試 是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備,通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試,從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,實現更加精確的數據測試測量。

      更新時間:2023-10-18
      產品型號:KT-DQTL1
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    • KT-Z4019MRL4T科研小型氣敏測試真空探針臺

      科研小型氣敏測試真空探針臺,可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

      更新時間:2024-03-29
      產品型號:KT-Z4019MRL4T
      瀏覽量:585
    • KT-Z4019MRL4T制備LK-99 可選用 微型探針太臺測試材料

      制備LK-99 可選用 微型探針太臺測試材料,可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

      更新時間:2024-03-29
      產品型號:KT-Z4019MRL4T
      瀏覽量:541
    • KT-Z4019MRL4T超導體材料lk99 可用真空探針臺測試材料

      超導體材料lk99 可用真空探針臺測試材料,可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

      更新時間:2024-03-29
      產品型號:KT-Z4019MRL4T
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